Sigmadyne SigFit(光機(jī)熱耦合分析工具)v2020R1F免費(fèi)版

Sigmadyne SigFit是一款光機(jī)熱耦合分析工具，自適應(yīng)控制仿真、用蒙特卡羅方法進(jìn)行變化分析、計(jì)算動(dòng)態(tài)響應(yīng)波前誤差(與光學(xué)分析軟件連接)和視線誤差，可廣泛應(yīng)用于空間相機(jī)、紅外光學(xué)鏡頭、激光引信等領(lǐng)域。

功能介紹

1、基本功能

將熱分析與機(jī)械分析的溫度、應(yīng)力和變形量等通過澤尼克多項(xiàng)式擬合或點(diǎn)陣圖插值，為光學(xué)分析軟件提供光學(xué)表面的變形信息和溫度和應(yīng)力引起的折射率變化信息，從而實(shí)現(xiàn)熱、機(jī)械及光學(xué)的耦合分析。

多項(xiàng)式擬合：將多種輸入格式的數(shù)據(jù)擬合為多項(xiàng)式。多項(xiàng)式類型包括標(biāo)準(zhǔn)和邊緣Zernike 多項(xiàng)式、非球面多項(xiàng)式、X-Y多項(xiàng)式等九種格式。擬合結(jié)果包括多項(xiàng)式系數(shù)、光學(xué)工具輸入宏文件、擬合RMS 和PV 值等

表面變形插值：將光學(xué)測試的試驗(yàn)數(shù)據(jù)或有限元仿真的網(wǎng)格數(shù)據(jù)插值為一個(gè)數(shù)組或者另一種網(wǎng)格結(jié)果，以用于仿真預(yù)測結(jié)果與光學(xué)測試結(jié)果的對比或描述Zernike 多項(xiàng)式無法準(zhǔn)確描述的光學(xué)表面變形

2、高級應(yīng)用

主動(dòng)控制：分析光學(xué)面形RMS值隨激勵(lì)源數(shù)目的變化關(guān)系，分析如何布置激勵(lì)源使光學(xué)表面RMS 更小，為施加激勵(lì)源的位置和大小提供參考

動(dòng)態(tài)響應(yīng)：基于固有頻率結(jié)果、激勵(lì)載荷和阻尼等，計(jì)算面形由于諧波振動(dòng)、隨機(jī)振動(dòng)和瞬態(tài)載荷引起的剛體位移、曲率變化和RMS 誤差、傳遞函數(shù)變化以及各階模態(tài)對RMS 的影響等

設(shè)計(jì)優(yōu)化(僅MSC Nastran)：將光學(xué)表面的Zernike系數(shù)、面型RMS 值、PV 值等參數(shù)轉(zhuǎn)變?yōu)镹astran 格式的方程，利用Nastran 的優(yōu)化求解器對光學(xué)表面的面型、支撐結(jié)構(gòu)、材料參數(shù)等進(jìn)行優(yōu)化。

光程差分析：根據(jù)有限元分析的鏡面應(yīng)力和溫度結(jié)果、流體軟件計(jì)算的鏡面附近流體的密度以及這些參數(shù)對折射率的影響關(guān)系，計(jì)算為平均光程差、雙折射等光學(xué)特性。

特別說明

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